Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Conductive Atomic Force Microscopy
- Applications in Nanomaterials
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 384
- Udgivet:
- 11. Oktober 2017
- Størrelse:
- 251x176x25 mm.
- Vægt:
- 978 g.
Gratis fragt
Leveringstid:
2-4 uger
Forventet levering: 16. Maj 2024
Beskrivelse af Conductive Atomic Force Microscopy
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
Brugerbedømmelser af Conductive Atomic Force Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Conductive Atomic Force Microscopy findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
