Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
- Theory and Applications
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 318
- Udgivet:
- 7. september 2013
- Udgave:
- 2014
- Størrelse:
- 235x155x23 mm.
- Vægt:
- 664 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 13. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Beskrivelse af Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis.
Brugerbedømmelser af Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
