Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Advanced Test Methods for SRAMs
- Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 171
- Udgivet:
- 1. oktober 2009
- Udgave:
- 2010
- Størrelse:
- 234x156x12 mm.
- Vægt:
- 980 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 9. december 2024
Beskrivelse af Advanced Test Methods for SRAMs
Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.
Brugerbedømmelser af Advanced Test Methods for SRAMs
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Advanced Test Methods for SRAMs findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
