Black Week: Spar op til 85% Spar op til 85% på et kæmpe udvalg af gode bøger
Udvidet returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

af Günther~ Vonœ, Bünau
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse af Günther~ Vonœ
  • Sprog:
  • Tysk
  • ISBN:
  • 9783531030494
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 28
  • Udgivet:
  • 1. januar 1981
  • Størrelse:
  • 170x244x2 mm.
  • Vægt:
  • 64 g.
  • BLACK WEEK
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 10. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Bag om Günther~ Vonœ

Vis alle bøger af Günther~ Vonœ

Brugerbedømmelser af Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse



Andre købte også..

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.