Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 378
- Udgivet:
- 12. februar 2010
- Udgave:
- 12006
- Størrelse:
- 156x234x21 mm.
- Vægt:
- 646 g.
-
BLACK NOVEMBER
På lager
Leveringstid:
2-15 hverdage
Forventet levering: 11. december 2024
Beskrivelse af Applied Scanning Probe Methods III
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
Brugerbedømmelser af Applied Scanning Probe Methods III
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Applied Scanning Probe Methods III findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
