Black Week: Spar op til 85% Spar op til 85% på et kæmpe udvalg af gode bøger
Udvidet returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Computer og IT
  5. Assessing Fault Model and Test Quality

Assessing Fault Model and Test Quality

af Kenneth M. Butler, M. Ray Mercer

indgår i The Springer International Series in Engineering and Computer Science serien

Assessing Fault Model and Test Quality af Kenneth M. Butler
Bag om Assessing Fault Model and Test Quality

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780792392224
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 132
  • Udgivet:
  • 31. oktober 1991
  • Udgave:
  • 1992
  • Størrelse:
  • 234x156x11 mm.
  • Vægt:
  • 880 g.
  • BLACK WEEK
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 9. december 2024

Bag om Kenneth M. Butler

Vis alle bøger af Kenneth M. Butler

Beskrivelse af Assessing Fault Model and Test Quality

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

Brugerbedømmelser af Assessing Fault Model and Test Quality



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Assessing Fault Model and Test Quality findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.