Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 328
- Udgivet:
- 4. juni 2007
- Udgave:
- 22007
- Størrelse:
- 234x156x20 mm.
- Vægt:
- 694 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 7. december 2024
Beskrivelse af Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.
Brugerbedømmelser af Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
