Udvidet returret til d. 31. januar 2025

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

- Nano-Electronic Semiconductor Devices

Bag om Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781402043666
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 492
  • Udgivet:
  • 27. januar 2006
  • Udgave:
  • 2006
  • Størrelse:
  • 235x155x25 mm.
  • Vægt:
  • 1560 g.
  • BLACK WEEK
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 11. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Beskrivelse af Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

Brugerbedømmelser af Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks



Find lignende bøger
Bogen Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.