Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Design for Testability, Debug and Reliability
- Next Generation Measures Using Formal Techniques
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 164
- Udgivet:
- 20. april 2021
- Udgave:
- 12021
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 454 g.
-
BLACK FRIDAY: :
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 12. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Beskrivelse af Design for Testability, Debug and Reliability
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
Brugerbedømmelser af Design for Testability, Debug and Reliability
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Design for Testability, Debug and Reliability findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
