Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
- Time Dependent Failure Mechanisms
indgår i SpringerBriefs in Materials serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 105
- Udgivet:
- 17. september 2016
- Udgave:
- 12016
- Størrelse:
- 235x155x6 mm.
- Vægt:
- 1883 g.
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Brugerbedømmelser af Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics findes i følgende kategorier: