Udvidet returret til d. 31. januar 2025

Electromigration Inside Logic Cells

- Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Bag om Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783319488981
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 118
  • Udgivet:
  • 16. december 2016
  • Udgave:
  • 12017
  • Størrelse:
  • 235x155x10 mm.
  • Vægt:
  • 3376 g.
  • BLACK WEEK
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 10. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Beskrivelse af Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Brugerbedømmelser af Electromigration Inside Logic Cells



Find lignende bøger
Bogen Electromigration Inside Logic Cells findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.