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Eingebettete Systeme ubernehmen zentrale Steueraufgaben im taglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen wurde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlasst sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstuchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens - und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.
Providing an introduction to ATPG, this book reviews the basic concept and classical ATPG algorithms. It is the first book to give a detailed overview on SAT-based ATPG. It describes the state-of-the-art in the field and shows directions for future work.
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
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