Markedets billigste bøger
Gratis fragt fra 599,- kr
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

- Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

indgår i Springer Series in Advanced Microelectronics serien

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9788132225072
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 269
  • Udgivet:
  • 6. august 2015
  • Udgave:
  • 12015
  • Størrelse:
  • 235x155x20 mm.
  • Vægt:
  • 6083 g.
  Gratis fragt
Leveringstid: 2-3 uger
Forventet levering: 19. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Brugerbedømmelser af Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.