Name: Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Price: 2072.95 DKK
Availability: InStock
Author: Yusuf Leblebici
ISBN: 9781461364290

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits af Yusuf Leblebici

Du sparer 0% ift. normalprisen Spar 0%

Paperback
8-11 hverdage
2.072,95 kr.

Sprog:
Engelsk

ISBN:
9781461364290

Forlag:
Springer US

Indbinding:
Paperback

Sideantal:
236

Udgivet:
27. September 2012

Størrelse:
155x13x235 mm.

Vægt:
365 g.

2.072,95 kr.
~~2.072,95 kr.~~

Gratis fragt

Leveringstid: 8-11 hverdage

Forventet levering: 18. Oktober 2024

Bag om Yusuf Leblebici

Vis alle bøger af Yusuf Leblebici

Brugerbedømmelser af Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Andre købte også..

Find lignende bøger

Bogen Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits findes i følgende kategorier:

Business og læring
Teknologi, ingeniørvidenskab og landbrug > Energiteknik > Elektroteknik
Teknologi, ingeniørvidenskab og landbrug > Elektronik og kommunikationsteknik > Elektronik teknik > Elektronik: kredse og komponenter

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Bag om Yusuf Leblebici

Brugerbedømmelser af Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Gør som tusindvis af andre bogelskere