Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Interfacial Compatibility in Microelectronics
- Moving Away from the Trial and Error Approach
indgår i Microsystems serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 218
- Udgivet:
- 10. januar 2012
- Udgave:
- 2012
- Størrelse:
- 235x155x18 mm.
- Vægt:
- 512 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 13. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Beskrivelse af Interfacial Compatibility in Microelectronics
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.
Brugerbedømmelser af Interfacial Compatibility in Microelectronics
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Interfacial Compatibility in Microelectronics findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
