Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
- Instrumentation, Data Analysis and Applications
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 208
- Udgivet:
- 13. april 2022
- Størrelse:
- 246x173x11 mm.
- Vægt:
- 414 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
Ukendt - mangler pt.
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Bag om Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Vis alle bøger af Andrew T. S. (National University of Singapore WeeBeskrivelse af Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Brugerbedømmelser af Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
