Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
- Origin, Characterization, Control, and Device Impact
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 438
- Udgivet:
- 30. januar 2019
- Udgave:
- 12018
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 718 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 10. december 2024
Beskrivelse af Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.
Brugerbedømmelser af Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
