Markedets billigste bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Bag om Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783030683672
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 131
  • Udgivet:
  • 11. marts 2021
  • Udgave:
  • 12021
  • Størrelse:
  • 155x235x0 mm.
  • Vægt:
  • 454 g.
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 17. januar 2025

Beskrivelse af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Brugerbedømmelser af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs



Find lignende bøger
Bogen Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.