Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 131
- Udgivet:
- 11. marts 2021
- Udgave:
- 12021
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 454 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 7. december 2024
Beskrivelse af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.
Brugerbedømmelser af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
