Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
- Scanning Probe Microscopy Approach
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 282
- Udgivet:
- 6. april 2004
- Udgave:
- 2004
- Størrelse:
- 235x155x18 mm.
- Vægt:
- 672 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 7. december 2024
Beskrivelse af Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
This book presents recent advances in the field of nanoscale characterization of ferroelectric materials using scanning probe microscopy (SPM).
Brugerbedømmelser af Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
