Markedets billigste bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Bag om Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781558994966
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 354
  • Udgivet:
  • 17. April 2000
  • Størrelse:
  • 157x23x234 mm.
  • Vægt:
  • 590 g.
Leveringstid: Ukendt - mangler pt.

Beskrivelse af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brugerbedømmelser af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588



Find lignende bøger
Bogen Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588 findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.