Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Radiation-induced Soft Error
- A Chip-level Modeling
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 136
- Udgivet:
- 27. november 2010
- Størrelse:
- 157x234x8 mm.
- Vægt:
- 210 g.
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Beskrivelse af Radiation-induced Soft Error
A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.
Brugerbedømmelser af Radiation-induced Soft Error
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Radiation-induced Soft Error findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
