Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 126
- Udgivet:
- 6. Juni 2016
- Størrelse:
- 210x148x7 mm.
- Vægt:
- 159 g.
Leveringstid:
2-3 uger
Forventet levering: 14. Maj 2024
Brugerbedømmelser af Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints findes i følgende kategorier: