Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Scanning Probe Microscopy
- Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 382
- Udgivet:
- 25. februar 2015
- Udgave:
- 2015
- Størrelse:
- 245x164x26 mm.
- Vægt:
- 746 g.
Gratis fragt
Leveringstid:
Ukendt - mangler pt.
Beskrivelse af Scanning Probe Microscopy
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.
Brugerbedømmelser af Scanning Probe Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Probe Microscopy findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
