Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Scanning Probe Microscopy
- Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 282
- Udgivet:
- 12. februar 2010
- Udgave:
- 12006
- Størrelse:
- 235x155x16 mm.
- Vægt:
- 456 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 7. december 2024
Beskrivelse af Scanning Probe Microscopy
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
Brugerbedømmelser af Scanning Probe Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Probe Microscopy findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
