Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Scanning Probe Microscopy
- Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 980
- Udgivet:
- 4. november 2016
- Udgave:
- 12007
- Vægt:
- 1578 g.
-
BLACK NOVEMBER
På lager
Leveringstid:
2-15 hverdage
Forventet levering: 11. december 2024
Beskrivelse af Scanning Probe Microscopy
This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.
Brugerbedømmelser af Scanning Probe Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Probe Microscopy findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
