Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
- Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 506
- Udgivet:
- 10. januar 2012
- Udgave:
- 11984
- Størrelse:
- 235x155x27 mm.
- Vægt:
- 801 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 11. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Beskrivelse af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.
Brugerbedømmelser af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
