Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
indgår i Nato ASI Subseries B: serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 319
- Udgivet:
- 1. januar 1989
- Udgave:
- 11988
- Størrelse:
- 244x170x17 mm.
- Vægt:
- 575 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 21. november 2024
Beskrivelse af Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.
Brugerbedømmelser af Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
