Markedets billigste bøger
Gratis fragt fra 599,- kr
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

indgår i Nato ASI Subseries B: serien

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
Bag om Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781461595397
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 319
  • Udgivet:
  • 1. januar 1989
  • Udgave:
  • 11988
  • Størrelse:
  • 244x170x17 mm.
  • Vægt:
  • 575 g.
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 16. januar 2025

Beskrivelse af Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Brugerbedømmelser af Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.