Black Week: Spar op til 85% Spar op til 85% på et kæmpe udvalg af gode bøger
Udvidet returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

af Chakrabarty Krishnendu

indgår i Devices, Circuits, and Systems serien

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits af Chakrabarty Krishnendu
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781138075771
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 264
  • Udgivet:
  • 29. marts 2017
  • Størrelse:
  • 156x234x0 mm.
  • Vægt:
  • 453 g.
  • BLACK WEEK
  Gratis fragt
Leveringstid: 2-4 uger
Forventet levering: 19. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Bag om Chakrabarty Krishnendu

Vis alle bøger af Chakrabarty Krishnendu

Brugerbedømmelser af Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.