Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Testing Static Random Access Memories
- Defects, Fault Models and Test Patterns
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 221
- Udgivet:
- 31. Marts 2004
- Udgave:
- 2004
- Størrelse:
- 235x155x14 mm.
- Vægt:
- 1150 g.
Gratis fragt
Leveringstid:
2-3 uger
Forventet levering: 23. Juli 2024
Beskrivelse af Testing Static Random Access Memories
Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.
Brugerbedømmelser af Testing Static Random Access Memories
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Testing Static Random Access Memories findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
