Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 50
- Udgivet:
- 20. maj 2020
- Udgave:
- 12020
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 454 g.
-
BLACK WEEK
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 10. december 2024
Beskrivelse af Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices
This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications.
Brugerbedømmelser af Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
