Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 148
- Udgivet:
- 30. juni 1989
- Udgave:
- 1989
- Størrelse:
- 234x156x11 mm.
- Vægt:
- 910 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis fragt
Leveringstid:
8-11 hverdage
Forventet levering: 7. december 2024
Brugerbedømmelser af Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation findes i følgende kategorier: