Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
indgår i MRS Proceedings serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 420
- Udgivet:
- 10. August 1990
- Størrelse:
- 160x28x231 mm.
- Vægt:
- 839 g.
Leveringstid:
Ukendt - mangler pt.
Beskrivelse af High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Brugerbedømmelser af High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183 findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Bogreolen.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
