Markedets billigste bøger
Gratis fragt fra 599,- kr
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

af David C. Cox

indgår i IOP Concise Physics serien

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology af David C. Cox
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781681740201
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 104
  • Udgivet:
  • 1. oktober 2015
  • Størrelse:
  • 178x253x8 mm.
  • Vægt:
  • 178 g.
  Gratis fragt
Leveringstid: 2-3 uger
Forventet levering: 19. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Bag om David C. Cox

Vis alle bøger af David C. Cox

Brugerbedømmelser af Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.