Black November: Store besparelser hele måneden Vi fejrer Black Friday hele november måned med store besparelser
Udvidet returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

- A Laboratory Workbook

af John Armstrong, David B. Williams, Patrick Echlin, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Alton D. Romig Jr., Charles Fiori
Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy af John Armstrong
Bag om Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780306435911
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 407
  • Udgivet:
  • 31. august 1990
  • Udgave:
  • 11990
  • Størrelse:
  • 246x302x25 mm.
  • Vægt:
  • 726 g.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis fragt
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 28. november 2024

Bag om John Armstrong

Vis alle bøger af John Armstrong

Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy



Andre købte også..

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.